实验四可编程并行接口芯片8255

实验四可编程并行接口芯片8255

一、实验目的

1、学习并掌握8255的各类工作方式及其应用

2、学习在系统接口实验单元上构造实验电路

二、实验设备TDN86/51教学实验系统

三、实验芯片简介

1、系统中的8255线路8255的数据线片选信号线、地址线、读写操纵线等分别与系统总线相连，其A、B、C三个端口以排针形式引出，供8255实验使用，见图

4.1图

4.1系统中的8255线路8255端口地址

2、接口实验单元中的开关与发光二极管电路图

4.2中D7-D0为8个发光二极管的接线点，K7-K0为8个开关的接线点

四、实验内容及步骤

（一）8255接口方式0应用实验.使8255端口A工作在方式0并作为输出口，端口B工作在方式0并作为输入口，将图

4.3中的K7-KO开关信号顺序与PB7-PB0相连，端口A的PA7-PA0分别与发光二极管D7—DO相连，然后通过对8255芯片编程来实现输入/输出功能实验程序.运行实验程序，拨动开关组，观察发光二极管亮火情况，并记录之

（二）8255接口应用实验.使8255端口A工作在方式0并作为输出口，PA7—PAO分别与发光二极管D7-DO相连，然后通过对8255芯片编程来实现输入/输出功能ORG21002100B082MOVAL822108EBFAJMPAl.运行实验程序，拨动开关组，观察发光二极管应亮灭情况，并记录之..若要使D3或者D6对应的发光二极管点亮，试修改程序，进行实验并记录之

（三）用8255作为七段数码管的接口实验步骤.按实验线路图

4.6接线.输入程序并检查无误，经汇编、连接后装入系统.按图

4.5在存储单元1010——1017内存入0〜7的字段代码（E1010回车）.改变开关组K0-K7的状态（注K7-K0中只有一个闭合），使得B□的显示内容值发生变化，最终使数码管显示不一致的数字；.修改程序，使数码管的显示位数不一致将修改内容及结果记录之图

4.6实验线路图

五、实验报告要求

1、对各实验内容进行分析总结

2、对实验内容

（四）的程序进行注释，说明改写后的程序及实验结果

3、写出完整的实验报告XDO34DOPAODIPAID2PA2D3PA3D4PA4D5PA5D6PA6D7PA7RDPBOWRPB1AOPB2AlPB3RESETPB4CSPB5PB68255PB7PCOPCIPC2PC3PC4PC5PC6PC74XDi333XD2322XD3311XD43040XD52939XD62838XD72737XIOR518XIOW3619XA0920XA1821RESET3522IOY36232425141516171312111信号线寄存器编址I0Y3A口60HB口61HC口62H操纵寄存器63H0RG20002000B082MOVAL822002E663OUT63AL2004E461Al INAL612006E660OUT60AL2008EBFAJMPAl2102E663OUT63AL2104E461Al MOVAL012106E660OUT60AL231ADECCX231BADDSICX231DMOVAL[SI]231FOUT61AL2321MOVAL002323OUT62AL2325XORCXCX2327MOVSI1010232AJMPLOOP2。