2023年集成门电路功能测试实验报告

集成门电路功能测试试验汇报

一、试验预习

1.逻辑值与电压值日勺关系.

二、

2.常用逻辑门电路逻辑功能及其测试措施.

三、

3.硬件电路基础试验箱的构造、基本功能和使用措施

四、试验目的测试集成门电路的功能

五、试验器件集成电路板、万用表

六、试验原理TTL与非门74LS00日勺逻辑符号及逻辑电路双列直插式集成与非门电路CT74LS00:数字电路日勺测试常对组合数字电路进行静态和动态测试，静态测试是在输入端加固定的电平信号,测试输出壮态，验证输入输出日勺逻辑关系动态测试是在输入端加周期性信号，测试输入输出波形，测量电路的I频率响应常对时序电路进行单拍和持续工作测试，验证其状态的I转换是对的I本试验验证集成门电路输入输出的逻辑关系，试验在由硬件电路基础试验箱和有关的测试仪器构成的物理平台上进行硬件电路基础试验箱广泛地应用于以集成电路为重要器件的数字电路试验中，它日勺重要构成部分有1直流电源提供固定直流电源+5V,-5V和可调电源+3〜15V,・3〜15V2信号源单脉冲源正负两种脉冲；持续脉冲3逻辑电平输出电路通过变化逻辑电平开关状态输出两个电平信号高电平“1”和低电平“0”4逻辑电平显示电路电平显示电路由发光二极管及其驱动电路构成，用来指示测试点的逻辑电平5数码显示电路动态数码显示电路和静态数码显示电路，静态数码显示电路由七段LED数码管及其译码器构成

（6）元件库元件库装有电位器、电阻、电容、二极管、按键开关等器件⑺插座区与管座区可插入集成电路，分立元件集成门电路功能验证措施选定器件型号，查阅该器件手册或该器件外部引脚排列图，根据器件的封装，连接好试验电路，以测试74LS00与非门的功能为例对的连接好器件工作电源:74LS00的|14脚和7脚分别接到试验平台的I5V直流电源的T+5V”和“GND”端处,TTL数字集成电路H勺工作电压为5V（试验容许±5%H勺误差）连接被测门电路口勺输入信号74LS00有四个二输入与非门，可选择其中一种二输入与非门进行试验，将输入端A,B分别连接到试验平台H勺十六位逻辑电平输出”电路日勺其中两个输出端（如KI、K2对应的输出端）连接被测门电路日勺出端将与非门的输出端Y连接到“十六位逻辑电平显示电路的I其中一种输入端确定连线无误后，可以上电试验，并记录试验数据，分析成果通过开关变化被测与非门输入端A,B的逻辑值，对应输入端的LED指示灯亮时为1,不亮时为0观测输出端的逻辑值，对应输出端的指示灯LED亮红色时为1,亮绿色时为0不亮表达输出端不是原则日勺TTL电平

七、.K

1.K2共有4种开关位置H勺组合，对应被测电路的四种输入逻辑状态00,01,10,11,可以变化K

1.K2开关的位置，观测电平显示LED日勺亮灭状况，以真值表口勺形式记录被测门电路时输入和输出逻辑状态JI、.观测逻辑值时，用万用表测量出对应欧I电压值，验正TTL电路逻辑值与电压值的I关系

九、比较实测值与理论值，比较成果一致，阐明被测门的I功能是对的门电路完好假如实测值与理论值不一致，应检查集成电路区I工作电压与否正常，试验连线与否对日勺,判断门电路与否损坏

十、试验内容

1.基本门电路逻辑电路测试测试74LS08（与门）、74LS32（或门）、74LS04（非门卜74LS00（与非门）、74LS86（异或门）的功能将被测芯片插入试验区的空插座，连接好测试线路，拨动开关,变化输入信号，观测输入输出端的逻辑值时，并用万用表测量出输出端对应的电压值，验正TTL电路的逻辑功能，记录试验数据输入输出Y74LS0874LS3274LS0474LS0074LS86A B Y U/V YU/V YU/V YU/V YU/V

0000.21——

13.

5513.

5500.

770100.20——

00.

1013.

5413.

531000.21—___——

13.

5413.

221113.42——------

00.

1513.

3.3所示

（1）在试验箱上用“异（74LS86）和“与非”门连L

3.3所示逻辑电路输入端A.B接“逻辑电平”开关，输出端S、C接“电平显示”发光二极管B SC通过电平开关变化输入A、B的逻辑状态置位，观测输出端的逻辑状态,列表记录£2通过电平开关验变化输入A、B的逻辑状态置位，观心测输出端的逻辑状态，列表记录得A0000本次01101010试验1101原理不是很复杂，不过线路比较难连，试验所用到H勺关键器件也不太好找理论知识挺轻易但实际实行起来确实蛮纠结区I,做了好多次总是有问题，后来发现电线有一根是坏掉的，做电路试验，还是需要多些经验呐。