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场效应管()教学课件FET本课件涵盖半导体器件的核心内容,特别适用于大学电子类课程课程全面覆盖场效应管的工作原理、分类、电气特性以及实际应用,帮助学生深入理解现代集成电路的基础元件课程目标通过本课程学习,您将能够全面了解的基本结构与不同类型•FET深入掌握的主要工作原理与电气特性•FET能够独立分析与设计基于的各类电路•FET理解在现代电子设备中的重要应用•FET场效应管作为现代电子工程的基石,其理论与应用是电子工程师必备的专业知识什么是场效应管单极型三极管场效应管是一种只有一种载流子参与导电的三极管,与双极型晶体管明显不同电场控制原理通过电场效应控制电流大小,而非电流注入控制,具有独特的控制机制高输入阻抗由于控制端几乎不需要电流,因此具有极高的输入阻抗特性发展简史FET1年1930场效应管最早理论由物理学家提出专利构想Julius Lilienfeld2年1947-1952贝尔实验室研发出结型场效应管原型JFET3年1959-1963首个金属氧化物半导体场效应管由和发明并投入MOSFET KahngAtalla生产4年代至今1970成为集成电路主流元件,推动了现代计算机与数字设备革命MOSFET与双极型晶体管对比FET场效应管双极型晶体管FET BJT单极性只有一种载流子电子或空穴参与导电双极性电子和空穴同时参与导电••高输入阻抗通常为输入阻抗较低通常为几千至几万欧姆•10^7~10^12Ω•电压控制电流控制端几乎不消耗电流电流控制电流基极需要驱动电流••热稳定性好,不易发生热击穿热稳定性较差,容易出现热失控••集成度高,体积小,功耗低响应速度快,适合高频应用••的主要分类FET绝缘栅型场效应管MOSFET栅极与沟道间有绝缘层,利用栅电压感应形成导电沟道结型场效应管增强型无偏压时无导电沟道JFET•耗尽型无偏压时已有导电沟道•利用结反向偏置形成的空间电荷区控制沟PN道宽度特殊类型沟道以电子为主要载流子FET•N JFET•P沟道JFET以空穴为主要载流子针对特定应用优化的场效应管变体功率大功率应用•MOSFET横向扩散•LDMOS MOS高电子迁移率晶体管•HEMT三端极名称FETG D栅极漏极Gate Drain控制端,通过电场效应控制沟道电输出端,载流子流出的端极,对应流大小,对应于的基极于的集电极BJT BBJT CS源极Source输入端,载流子的来源,对应于的发射极BJT E场效应管的三个端极命名直观反映了其工作原理载流子从源极流入,受栅极控制,从漏极流出Source GateDrain结型()结构FET JFET沟道结构沟道结构N JFETP JFET型半导体构成导电沟道型半导体构成导电沟道•N•P两侧区形成结控制区两侧区形成结控制区•P PN•N PN沟道中主要载流子为电子沟道中主要载流子为空穴••栅极接负电压时沟道变窄栅极接正电压时沟道变窄••沟道工作原理N JFET初始状态当栅极与源极之间无偏置时,漏源间施加电压,电子从流向G SUGS=0UDS0S D形成漏极电流ID栅压调控当时,结反向偏置,形成空间电荷区,使型沟道变窄,电阻增大,UGS0PN N减小ID夹断效应当达到夹断电压时,空间电荷区完全阻断沟道,,此时UGS UGSoff ID≈0管子关断沟道解析P JFET基本工作原理主要载流子为空穴,方向与电流方向相同•漏源电压,空穴从流向•UDS0S D栅源电压时,结反向偏置•UGS0PN电压极性与沟道相反•N JFET工作机理与沟道类似,但载流子类型不同•N沟道的参数计算与沟道类似,但需注意电压极性符号的变化在实际P JFETN应用中,由于空穴迁移率低于电子,沟道的响应速度通常略慢于沟道P JFETN器件转移特性曲线JFET转移特性曲线解析表示与的关系曲线固定•ID UGSUDS近似满足平方律•ID=IDSS1-UGS/UGSoff²栅源短路时的漏极饱和电流•IDSS夹断电压,使的栅源电压•UGSoffID≈0转移特性曲线是设计偏置电路的重要依据•沟道的为负值,通常在至之间;而沟道的N JFETUGSoff-2V-8V P JFET为正值,数值范围相似实际应用中,工作点通常选在曲线的UGSoff中部区域,以获得较好的线性度输出特性曲线JFET欧姆区线性区饱和区恒流区当较小时,随近似线性增加,此当增大到一定值后,沟道在靠近漏极处UDS ID UDS UDS时沟道相当于一个电阻,工作在欧姆被夹断,几乎不随变化,而主要由JFET IDUDS区在此区域中,沟道未被夹断,电流主要控制这一区域是作为放大器的UGS JFET由决定主要工作区UDS输入输出阻抗JFET输入阻抗输出阻抗由栅源间反向偏置的结决定由沟道电阻和栅极控制效应共同决定•PN•静态输入电阻高达欧姆区输出阻抗较低•10⁷~10⁹Ω•输入电容通常为几饱和区输出阻抗较高,约•pF•10⁴~10⁶Ω高频时输入阻抗会下降等效为电流源并联高阻••适合高阻抗信号源的前级放大受工作点和管子参数影响••典型应用JFET低噪声放大器模拟开关由于高输入阻抗和低噪声特性,特别利用栅极控制沟道导通与截止的特性,JFET适合音频前置放大器、传感器信号放大等可作为高质量模拟开关,广泛用于音JFET对噪声敏感的应用场合频切换、信号路由和采样保持电路阻抗变换器利用高输入阻抗和较低输出阻抗的特点,常用作源极跟随器,实现阻抗匹配,JFET减少负载对信号源的影响绝缘栅()介绍FET MOSFET的关键特性MOSFET栅极通过金属氧化物半导体结构控制沟道•--MOS绝缘层通常为二氧化硅,厚度约为几十纳米•SiO₂输入电阻极高,可达•10¹²~10¹⁵Ω几乎不消耗栅极控制电流•栅极与沟道完全隔离,电容耦合控制•比更容易集成,适合大规模集成电路•JFET静电敏感,需要特殊防护电路•是现代集成电路的核心元件,几乎所有的计算MOSFET机处理器、存储器和数字逻辑电路都由数百万至数十亿个组成MOSFET主要分类MOSFET耗尽型型MOSFETD栅源电压为零时已存在导电沟道,可通过栅源电压调节沟道宽度沟道导通,削弱增强型型•N UGS=0UGS0MOSFETE沟道导通,削弱•P UGS=0UGS0栅源电压为零时无导电沟道,需要适当的栅源电压才能形成导电沟道功率MOSFET沟道需正•N UGSVTH专为大电流、高电压应用设计的特殊沟道需•P UGSMOSFET垂直沟道结构增大电流容量•低导通电阻设计•快速开关特性•结构剖析MOSFET沟道增强型结构沟道增强型结构N MOSFETP MOSFET型基底衬底型基底衬底•P•N两个区形成源极和漏极两个区形成源极和漏极•N⁺•P⁺绝缘层覆盖在基底表面结构与沟道类似但掺杂类型相反•SiO₂•N金属或多晶硅栅极位于氧化层上方电压极性与沟道相反••N基底常与源极相连或接负电压在工艺中与沟道配对使用••CMOS N增强型工作机理MOSFET截止状态当时,源极与漏极之间无导电沟道,,器件处于关断状态UGS=0ID≈0感应沟道形成当阈值电压时,栅极电场在型基底表面感应出型反型层,形成导UGSVTHP N电沟道电流导通沟道形成后,施加,电子从源极流向漏极,形成漏极电流,电流大UDS0ID小由控制UGS耗尽型特性MOSFET结构特点在源漏之间预先形成一层与源漏同型的薄层•沟道预制型沟道在型基底表面•N N P沟道预制型沟道在型基底表面•P PN工作模式时已有导电沟道,•UGS=0ID≠0沟道减小,增大•N UGS0ID UGS0ID沟道减小,增大•P UGS0ID UGS0ID耗尽型具有双重工作模式,既可在增强模式下工作增大沟道,也可在耗尽模式下MOSFET工作减小沟道,提供了更大的设计灵活性跨导与电压关系MOSFET数学模型MOSFET增强型在饱和区的简化数学模型MOSFET其中与管子结构和工艺参数有关的常数•K=
0.5μCoxW/L沟道载流子迁移率•μ栅极氧化层单位面积电容•Cox沟道宽长比•W/L阈值电压,沟道为正,沟道为负•VTH N P跨导是表征放大能力的重要参数,定义为gm MOSFETID对的偏导数UGS传输与输出特性MOSFET传输特性输出特性ID-UGS ID-UDS表示在固定时,与的关系增强表示在不同下,与的关系可分UDS ID UGS UGSIDUDS型呈现平方律特性,当为线性区、饱和区和击穿区三个工作区域MOSFET UGSVTH时,随的平方增加这一特性是在线性区,如同电压控制电阻;在ID UGSMOSFET数字开关功能的基础饱和区,如同电压控制电流源,是MOSFET MOSFET放大应用的主要工作区输入输出阻抗MOSFET输入阻抗特性输出阻抗特性直流输入电阻,实际上趋近于无穷大线性区较低,相当于导通电阻•10¹²~10¹⁵Ω•RDSon输入电容包括栅源电容和栅漏电容饱和区较高,约•CGS CGD•10⁴~10⁶Ω在高频下,输入阻抗主要由电容决定功率的可低至级••MOSFET RDSonmΩ输入阻抗,其中受沟道调制效应影响,输出电阻与有关•Zi=1/jωCi Ci=CGS+CGD1+gmRL•UDS效应使的影响被放大,限制了高频性能等效模型中通常用表示•Miller CGD•ro=∂UDS/∂ID在数字电路中的地位MOSFET逻辑基础超大规模集成电路CMOS互补金属氧化物半导体技术利用沟道和沟道互补配易于缩小尺寸的特性使集成电路密度呈指数增长,现代处理器可CMOS NP MOSFETMOSFET对,形成低功耗、高集成度的数字电路静态状态下几乎不消耗功率,仅集成数十亿个晶体管摩尔定律正是基于技术进步而提出的,推MOSFET在状态切换时消耗能量,成为现代数字电路的主流技术动了计算机与数字技术的快速发展的主要特性总结FET电气特性高输入阻抗几乎不消耗控制电流,易与高阻抗信号源匹配•低噪声特别是,热噪声和闪烁噪声小,适合低噪放大•JFET方阻特性在线性区可作为电压控制电阻使用•恒流特性在饱和区表现为电压控制电流源•技术优势集成性好平面结构易于集成,特别是•MOSFET体积小单个器件面积小,密度高•功耗低特别是结构,静态功耗极低•CMOS成本低工艺成熟,批量生产成本低•可靠性高无少数载流子注入,不易发生热失控•符号与极性识别FET器件类型电路符号特征识别沟道箭头指向栅极,N JFETUGS0UDS0沟道箭头指向外部,PJFETUGS0UDS0沟道增强型虚线沟道,N MOSFETUGS0UDS0沟道增强型虚线沟道,P MOSFETUGS0UDS0沟道耗尽型实线沟道可导通N MOSFETUGS=0沟道耗尽型实线沟道可导通P MOSFETUGS=0在实际电路设计中,准确识别的类型和极性至关重要不同国家和地区可能采用略有差FET异的符号标准,但基本原则是相似的目前国际上广泛采用标准符号IEC与主要参数对照FET BJT参数类型场效应管双极型晶体管FET BJT放大倍数跨导电流放大倍数gm2~10mSβ50~300输入阻抗10⁷~10¹⁵Ω1~100kΩ输出阻抗饱和区10~100kΩ10~100kΩ带宽级级JFET~100MHz MOSFET~GHz~GHz噪声系数低,特别是较高JFET温度稳定性好,负温度系数差,正温度系数小信号模型与等效电路小信号等效电路参数FET跨导表示对的响应灵敏度•gm IDUGS输出电导表示对的响应灵敏度•gd IDUDS栅源电容栅极与源极间的电容•CGS栅漏电容栅极与漏极间的电容•CGD漏源电容漏极与源极间的电容•CDS输出电阻等于•rDS1/gd的小信号等效电路是分析放大器设计的基础在低频应用中,可以忽FET略电容参数;而在高频应用中,各种电容引起的效应必须考虑,特别是效应导致的输入电容增大Miller静态工作点分析FET静态工作点设计方法负载线法在输出特性曲线上绘制负载线,确定点•Q选择合适的静态工作点原则•线性放大点位于特性曲线的中部线性区域•Q功率放大点需考虑最大功率传输•Q开关应用点位于截止区或深度饱和区•Q静态工作点稳定性考虑•温度补偿电路设计•自稳定偏置电路•负反馈稳定技术•的静态工作点确定对放大器的线性度、增益和温度稳定FET性有重要影响在实际设计中,往往需要平衡多种因素,选择最优工作点放大电路的选型原则频率响应应用频段影响器件选择中低频与均可•JFET MOSFET信号特性高频射频专用或•FET BJT信号源特性决定选型方向宽带应用需考虑输入电容影响•高阻抗弱信号源选•JFET性能与成本低噪声要求首选•JFET大电流驱动选或功率综合因素决定最终选型•BJT MOSFET功耗要求低功耗选•CMOS线性度要求选或•JFET BJT成本与可靠性平衡•常见偏置方式JFET自偏置分压式偏置在源极串联电阻,利用源极电流在上产生的电压降作为负偏置电通过和分压提供栅极偏置电压,同时配合源极电阻实现稳定偏RS ISRS R1R2RS压优点是具有负反馈效应,具有良好的温度稳定性,是最常用的偏置方置此方式提供更精确的偏置控制,但电路复杂度增加,常用于要求较高式的应用常见偏置方法MOSFET栅极接地偏置源极自偏置适用于耗尽型源极串联电阻,提供负反馈•MOSFET•RS,简单直接温度稳定性好•UGS=0•漏极负载电阻决定工作点常与分压偏置结合使用•RD•温度稳定性较差设计要点••电阻值选择需平衡稳定性与增益分压偏置•RS增强型需确保•UGSVTH通过和分压提供栅极电压•R1R2耗尽型需确保在合适范围•UGS适用于增强型•MOSFET可精确控制栅极电压•需要考虑温度漂移补偿•典型共源单管放大电路FET共源极放大器特点信号加在栅极,输出从漏极取出•电压增益∥•Av=-gmRD rd输入阻抗高取决于栅极偏置电路•输出阻抗中等约等于•RD信号相位反转•180°中频带宽较宽,高频性能受影响•CGD共源极放大电路是最基本、最常用的放大器配置,可FET电路设计要点实现电压放大、功率放大和阻抗变换功能其增益与负载阻抗成正比,在高阻抗负载条件下可获得较大增益偏置网络设计确保稳定点•Q源极旁路电容提高交流增益•CS输入输出耦合电容选择决定低频响应•高频补偿技术改善频率特性•共漏极(源跟随)输出特性源跟随器特点信号加在栅极,输出从源极取出•电压增益,略小于•Av≈11精确计算•Av=gmRS/1+gmRS输入阻抗极高•输出阻抗低,约为•1/gm无相位反转相移•0°频率响应良好,可用于高频缓冲•源跟随器主要用于阻抗变换,将高阻抗信号源与低阻Source Follower抗负载匹配虽然没有电压增益,但可提供电流增益和功率增益,常用作缓冲级和输出级共栅极放大器应用共栅结构特点高频应用优势共栅极配置中,栅极接地交流地,信号加共栅极配置因效应小而具有优秀的高Miller在源极,输出从漏极取出其特点包括中等频特性,常用于射频前端、高频振荡器和宽增益∥,低输入阻抗约带放大器特别适合驱动低阻抗信号源,如Av=gmRD rd,高输出阻抗,无相位反转,以及出天线、传输线和某些传感器,在射频通信中1/gm色的高频性能应用广泛作为电子开关FET开关工作原理FET•利用FET的截止区和线性区特性•栅极控制信号在两个极限状态间切换•增强型MOSFET•栅压≤0开关断开•栅压≫VTH开关闭合•开关性能指标•开启电阻RDSon•截止状态漏电流IDSoff•开关速度上升/下降时间•传输损耗和开关损耗FET因其高开关速度和低导通电阻,在模拟和数字电路中均有广泛应用模拟开关可用于信号路由、采样保持电路和音频切换;数字开关则是逻辑电路和功率控制的基础模拟多路选择器原理传输门CMOS由一对沟道和沟道并联组成,通过互补控制信号同时导通或NPMOSFET关断这种结构可在两个节点间传输任意极性的模拟信号,导通电阻在整个信号摆幅范围内保持相对恒定多路复用器实现多个传输门并联,由控制逻辑选择哪一个通道接通等集成芯CMOS4066片内部包含个独立的双向模拟开关,可用于构建或多路复用器,42:14:1广泛应用于音频、视频信号选择和数据采集系统参数测试方法FET静态特性测量动态特性测试阈值电压测试输入电容测量•VTH•Ciss固定小电压,扫描反向传输电容测量•UDS UGS•Crss确定开始明显增加的值开关时间测试•IDUGS•跨导测试开启延迟时间•gm•tdon固定在饱和区上升时间•UDS•tr测量关断延迟时间•ΔID/ΔUGS•tdoff输出电导测试下降时间•gd•tf固定栅电荷测量•UGS•Qg测量•ΔID/ΔUDS热稳定性与失效模式FET栅漏击穿当栅极与漏极之间的电压超过氧化层的击穿电压时,氧化层被击穿,形成永久性损伤预防措施包括添加齐纳二极管保护和限制栅极电压摆幅静电放电损伤ESD的栅极对静电特别敏感,几百伏的静电可能导致氧化层击穿操作时MOSFET应使用防静电工具,电路中加入保护二极管和电阻限流网络ESD热击穿与二次崩溃功率在高电流高电压条件下可能出现热失控,形成局部热点导致二次崩溃FET解决方案包括合理散热设计、过温保护电路和安全工作区限制SOA寄生触发结构中存在寄生双极型晶体管,在特定条件下可能被触发导致闩锁效MOSFET应现代设计中通常加入抑制结构,应用中避免超出额定参数工作MOSFET的封装类型FET功率器件封装功率MOSFET常用TO-
220、TO-
247、D²PAK等封装,特点是具有金属散热片,可安装散热器,适用于大电流应用这类封装提供低热阻,有利于散热,常用于电源管理、电机驱动等功率电路小信号器件封装小信号FET常用SOT-
23、SOT-
223、DIP等封装,体积小,适合高密度电路设计现代表面贴装技术使用QFN、DFN等无引脚封装,进一步减小体积,降低寄生参数,改善高频性能集成电路封装集成电路中的FET通常无独立封装,而是集成在芯片内部这些芯片采用QFP、BGA、CSP等封装,可集成数百万至数十亿个晶体管现代芯片级封装技术ChiP进一步提高了集成度和性能与介绍CMOS VLSI技术基础超大规模集成电路CMOS VLSI互补金属氧化物半导体技术定义单芯片上集成数十万至数十亿晶体管•CMOS•将沟道和沟道集成在同一芯片主要应用•NPMOSFET•主要优点微处理器••CPU/GPU极低静态功耗存储器••RAM/ROM高集成度专用集成电路••ASIC良好的噪声容限片上系统••SoC简单的逻辑设计规则先进工艺节点已达到级别••3nm逻辑基本单元反相器栅极长度已缩小至几纳米量级••复杂逻辑通过组合实现•新型技术展望FET碳纳米管FETCNFET利用碳纳米管作为沟道材料,具有超高的载流子迁移率和优异的热导率理论性能远超硅基器件,有望突破硅基半导体的物理极限,但面临制造工艺和一致性挑战隧穿FETTFET基于量子隧穿效应的新型开关器件,具有超陡亚阈值特性,理论上可突破MOSFET的亚阈值摆幅限制,实现超低功耗电路,特别适合物联网应用60mV/dec氧化物半导体FET采用氧化锌、铟镓锌氧化物等宽禁带半导体材料作为沟道,具有高透明度、低温制备、柔性兼容等特点,在显示驱动、柔性电子等领域有广阔应用前景二维材料FET基于石墨烯、过渡金属二硫化物等二维材料,具有原子级厚度和独特的电学特性理论上可实现超薄沟道、抑制短沟道效应,成为后摩尔时代的候选技术相关国际主要标准FET标准中国标准JEDEC美国电子工业联合委员会场效应管总规范•JEDEC:•GB/T12407:功率测试规范场效应管测试方法•JESD282:MOSFET•GB/T16510:半导体参数测试方法功率技术规范•JESD24:•GB/T19095:MOSFET半导体设备可靠性评估•JESD245:品质认证与管控规定了的命名、测试、可靠性等标准•FET关键品质参数•标准IEC静态参数等•VTH,RDSon,IDSS国际电工委员会动态参数等•IEC:•tr,tf,Qg半导体器件标准系列可靠性率•IEC60747:•MTBF,FIT半导体器件机械和气候测试方法汽车电子认证•IEC60749:•AEC-Q101广泛用于欧洲和国际市场军工级认证••MIL-STD-883电路设计注意事项FET噪声抑制高输入阻抗使FET电路容易受到外部噪声干扰设计中应采用短走线、地平面屏蔽、去耦电容等措施减少噪声耦合特别注意栅极走线应尽量短,并考虑适当的屏蔽设计振荡防止FET电路特别是高频应用中容易出现寄生振荡采用中和电路、局部负反馈、阻尼网络等技术可有效抑制振荡功率应用中应考虑栅极驱动阻抗对稳定性的影响静电保护MOSFET栅极极易受静电损伤电路设计应包含保护二极管、限流电阻等ESD保护措施操作和生产过程中需采取防静电措施,使用防静电工具和接地腕带布局设计合理的PCB布局对电路性能至关重要信号和电源走线应考虑电流路径,功率器件需预留足够散热区域,敏感模拟电路需与数字电路适当隔离,减少干扰典型电路实测与仿真电路仿真软件实验测量与误差分析适合教学和基础电路分析常见测量设备•Multisim•免费且功能强大的仿真器示波器波形观察•LTspice SPICE•专业电路设计与仿真频谱分析仪频域分析•Cadence PSpice•德州仪器提供的仿真软件半导体参数分析仪器件特性•Tina-TI•误差来源仿真分析•模型精度模型与实际器件差异•SPICE直流工作点分析•测量误差探头负载效应、仪器精度•交流小信号分析•器件分散性批次和温度变化•瞬态分析•温度扫描•蒙特卡洛分析工艺偏差影响•经典试题精析示例问题工作区分辨示例问题放大器分析12若一沟道增强型的阈值电压,栅源电压,漏一共源极放大器,已知,,,求电压N MOSFETVTH=2V UGS=5V JFETgm=4mS rds=25kΩRD=5kΩ源电压,则该工作在哪个区域?增益UDS=1V MOSFET解析解析当且共源极放大器的电压增益UGSVTH UDS:此处,且UGS=5VVTH=2V UDS=1V计算与并联等效电阻∥∥RD rdsRD rds=5kΩ25kΩ=
4.17kΩ代入公式Av=-4mS×
4.17kΩ=-
16.68增益为,负号表示信号反相-
16.68行业应用案例音频处理射频通信电源管理在高端音频前置放大器中广泛应用,其射频在移动通信基站、雷达系统和功率是现代开关电源的核心元件,JFET MOSFETMOSFET低噪声和高输入阻抗特性使其成为麦克风和拾卫星通信中发挥关键作用等特种功从家用电器到服务器电源无处不在和LDMOS GaN音器信号放大的理想选择专业音频设备如调率可在频段工作,提供高效率基正在高频开关电源中替代传统硅基MOSFET GHzSiC FET音台、效果器和高保真音响系统常采用分立功率放大低噪声用于卫星接收机和微器件,提高效率和功率密度,推动电源适配器HEMT设计的放大级波链路的前端放大小型化和电动汽车充电技术进步FET未来发展趋势FET极限缩小1亚纳米栅长新材料2宽禁带半导体和二维材料新结构
3、环绕栅和纳米线结构FinFET低功耗技术4极低阈值和亚阈值摆幅突破专用应用优化5加速、物联网和绿色能源定制设计AI FET技术的发展正朝着更小尺寸、更高性能和更专业化的方向发展,对计算机、通信、人工智能和可持续能源等领域产生深远影响集成电路产业将持续推动技术创FET FET新,突破传统硅基半导体的物理极限国内外主要制造商FET国际知名厂商中国厂商英特尔先进逻辑工艺的技术领导者中芯国际中国大陆最大的晶圆代工厂•Intel MOSFET•SMIC台积电全球最大的晶圆代工厂华虹半导体特色工艺和功率器件优势•TSMC•德州仪器模拟和功率领域领先中国电子科技集团军工级供应商•TI MOSFET•FET意法半导体功率器件优势明显士兰微电子集成电路和功率器件制造商•STMicroelectronics•英飞凌功率和的领军企业华润微电子功率和制造•Infineon MOSFET IGBT•MOSFETIGBT安森美广泛的产品线比亚迪半导体功率器件领域快速成长•ON SemiconductorFET•学习资源与推荐书目经典教材在线学习平台《模拟电子技术基础》童诗白,华成中国大学电子技术基础课程••MOOC英学堂在线半导体器件物理•《微电子学》杨为理•集成电路设计专项课程•Coursera《集成电路设计》尼尔威斯•CMOS·微电子学与半导体工程•edX特,戴维哈里斯·《半导体器件物理与工艺》施敏•开源仿真平台免费仿真软件•LTspice SPICE开源电路仿真平台•Qucs开源设计软件•KiCad PCB开源电路仿真引擎•Ngspice总结与答疑互动核心知识点回顾常见问题解答场效应管是利用电场控制电流的半导体器件与如何选择?••JFET MOSFET主要分为和两大类为什么易受静电损伤?•JFET MOSFET•MOSFET工作特性包括高输入阻抗、低噪声和良好的集成性如何理解栅源电压对电流的调制作用?••放大电路主要有共源、共漏和共栅三种基本配置集成电路中为何占主导地位?••MOSFET是模拟电路和数字电路的基础元件功率的散热问题如何解决?•FET•MOSFET现代集成电路技术发展离不开的进步高频应用中如何抑制寄生振荡?•MOSFET•感谢各位参与本次场效应管教学课程!希望通过本课件的学习,大家对的基础理论和应用有了更深入的理解欢迎在课后继续探讨相关问题,深化FET对半导体器件的认识。
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