超声检测 试题及答案

超声检测试题及答案前言本试题涵盖超声检测的基础理论、仪器操作、探头选择、缺陷识别及应用等核心知识点，共分为四种题型，适用于超声检测初学者、技术人员日常练习及考核参考试题注重理论与实践结合，答案简洁准确，可帮助读者巩固知识、提升应用能力

一、单项选择题（共30题，每题1分）超声波在介质中传播时，主要的传播方式是（）A.纵波B.横波C.表面波D.板波超声检测中，探头的“K值”指的是（）A.折射角的正弦值B.折射角的正切值C.折射角的余弦值D.入射角的正切值用于校准仪器灵敏度和探头参数的标准试块是（）A.对比试块B.标准试块C.焊缝试块D.模拟试块当超声波从一种介质进入另一种介质时，会发生（）A.反射B.折射C.散射D.以上都是超声检测中，“6dB法”主要用于（）A.缺陷定位B.缺陷定量C.灵敏度校准D.探头角度调整探头前沿长度是指（）A.探头表面到入射点的距离B.探头到工件表面的距离C.入射点到焦点的距离D.探头到缺陷的距离在焊缝超声检测中，常用的探头组合是（）A.直探头+斜探头B.直探头+双晶探头C.斜探头+双晶探头D.表面波探头+斜探头超声检测中，“一次反射法”适用于（）第1页共8页A.近场检测B.远场检测C.曲面检测D.薄板检测缺陷波的“波幅”反映了（）A.缺陷位置B.缺陷大小/当量C.缺陷性质D.缺陷取向耦合剂的主要作用是（）A.保护探头B.排除探头与工件间的空气C.增强声波衰减D.提高检测速度超声波的波长与频率的关系是（）A.λ=c/f B.λ=c×f C.λ=f/c D.λ=c+f横波斜探头主要用于检测（）A.表面缺陷B.内部缺陷C.与表面垂直的缺陷D.与表面平行的缺陷超声检测中，“DAC曲线”指的是（）A.缺陷当量-距离曲线B.声速-频率曲线C.衰减-距离曲线D.波幅-灵敏度曲线探头的“晶片尺寸”对检测灵敏度的影响是（）A.晶片越大，灵敏度越高B.晶片越小，灵敏度越高C.晶片尺寸与灵敏度无关D.晶片越大，穿透力越强缺陷在工件中的位置可用“水平距离”和“深度”表示，其中“水平距离”指的是（）A.缺陷在X轴方向的投影距离B.探头到缺陷在X轴方向的投影距离C.探头到缺陷的直线距离D.缺陷到工件边缘的距离超声检测中，“灵敏度余量”是指（）A.仪器最大放大倍数B.仪器能检测的最小缺陷能力C.探头的最大发射功率D.耦合剂的最佳用量第2页共8页当声波从水（声速1500m/s）进入钢（声速5900m/s）时，折射角与入射角的关系是（）A.折射角大于入射角B.折射角小于入射角C.折射角等于入射角D.无法确定双晶探头的主要优势是（）A.提高检测速度B.减少近场干扰C.增强声波穿透力D.扩大检测范围超声检测中，“缺陷的指示长度”是指（）A.缺陷的实际长度B.缺陷在检测方向的投影长度C.缺陷两端反射波的距离D.缺陷在深度方向的尺寸标准试块中“平底孔（Φ2mm）”的主要作用是（）A.校准仪器灵敏度B.调整仪器时间基线C.确定探头K值D.识别缺陷性质超声波的“指向性”是指（）A.声波传播的方向性B.声波的反射特性C.声波的衰减特性D.声波的折射特性横波检测时，若探头K值为

2.0，折射角约为（）A.

63.4°B.60°C.45°D.

53.1°超声检测中，“缺陷波的动态波形”可用于判断（）A.缺陷大小B.缺陷性质C.缺陷位置D.缺陷取向耦合剂的选择需考虑（）A.声阻抗匹配B.粘度C.价格D.以上都是仪器“水平线性”的作用是（）A.保证缺陷定位准确B.提高检测灵敏度C.增强声波穿透力D.减少杂波干扰第3页共8页超声检测中，“6dB法”用于（）A.缺陷定量B.灵敏度校准C.仪器校准D.缺陷定位纵波斜探头主要用于检测（）A.表面缺陷B.与表面成一定角度的内部缺陷C.曲面工件表面缺陷D.厚度较大的工件内部缺陷缺陷“埋藏深度”的计算公式是（）A.声程×sinθB.声程×cosθC.声程×tanθD.声程/2超声检测中，“试块”的作用不包括（）A.校准仪器B.确定探头参数C.验证检测方法D.放大缺陷信号超声波的“近场长度”与探头直径的关系是（）A.探头直径越大，近场长度越长B.探头直径越小，近场长度越长C.近场长度与探头直径无关D.近场长度等于探头直径

二、多项选择题（共20题，每题2分）超声检测中常用的探头类型包括（）A.直探头B.斜探头C.双晶探头D.表面波探头E.聚焦探头影响超声检测灵敏度的因素有（）A.仪器增益B.探头晶片尺寸C.耦合剂厚度D.缺陷取向E.材料衰减缺陷在超声检测中的特征包括（）A.反射波B.波幅C.位置D.动态波形E.传播速度超声检测中常用的校准方法有（）A.试块校准B.标准试块校准C.灵敏度校准D.时间基线校准E.探头角度校准耦合剂的作用包括（）第4页共8页A.排除探头与工件间的空气B.减少声波反射损失C.传递声波能量D.冷却探头E.保护工件表面超声波的传播特性包括（）A.直线传播B.反射C.折射D.衍射E.散射横波检测时，探头K值的选择需考虑（）A.工件厚度B.缺陷位置C.材料声速D.检测灵敏度E.探头尺寸超声检测中常见的缺陷类型有（）A.裂纹B.气孔C.夹渣D.未熔合E.分层缺陷定位的方法包括（）A.水平定位法B.深度定位法C.声程定位法D.坐标定位法E.三角定位法超声检测的主要应用领域有（）A.金属材料B.非金属材料C.焊缝检测D.锻件检测E.板材检测探头组合使用时，可能涉及（）A.直探头+斜探头B.斜探头+双晶探头C.直探头+双晶探头D.表面波探头+斜探头E.纵波探头+横波探头缺陷波的“动态波形分析”可用于判断（）A.缺陷大小B.缺陷性质C.缺陷取向D.缺陷位置E.缺陷数量超声检测中，“验收标准”通常考虑（）A.缺陷当量B.缺陷数量C.缺陷位置D.缺陷性质E.工件厚度第5页共8页仪器“时基线校准”的目的是（）A.保证缺陷定位准确B.确保缺陷波的位置与实际深度对应C.调整仪器的水平放大比例D.提高检测灵敏度E.减少杂波干扰纵波的特点包括（）A.质点振动方向与波传播方向一致B.可在固体、液体中传播C.波长较长D.对表面缺陷敏感E.传播速度与材料有关影响缺陷波幅的因素有（）A.缺陷大小B.缺陷取向C.缺陷声阻抗差D.缺陷位置E.声波传播距离双晶探头的结构特点包括（）A.两个晶片共用一个隔声层B.晶片间距较小C.近场区域检测效果好D.可减少近场干扰E.适用于表面检测超声检测中，“试块”的类型包括（）A.标准试块B.对比试块C.参考试块D.专用试块E.通用试块缺陷“当量计算”时常用的方法有（）A.6dB法B.当量法C.面积法D.长度法E.波幅法超声检测的局限性包括（）A.需耦合剂B.难以检测表面开口缺陷C.对粗晶材料灵敏度低D.检测速度慢E.无法判断缺陷性质

三、判断题（共20题，每题1分）超声波的传播速度仅与材料声阻抗有关（）直探头主要用于检测与检测面平行的缺陷（）横波的波长比纵波在同一材料中更短（）试块的主要作用是校准仪器灵敏度和探头参数（）第6页共8页耦合剂的声阻抗越接近工件，耦合效果越好（）缺陷波的波幅越高，说明缺陷尺寸越大（）超声检测中，“DAC曲线”可用于缺陷定量（）探头的K值越大，折射角越大（）超声波在介质中传播时，能量会随传播距离增加而衰减（）双晶探头适用于检测表面附近的缺陷（）缺陷的“水平距离”是指探头到缺陷在水平方向的直线距离（）纵波斜探头可检测与检测面垂直的缺陷（）超声检测的灵敏度越高，能检测的缺陷越小（）横波检测时，缺陷波的位置由声程和折射角共同确定（）标准试块中的“CSK-IA试块”主要用于焊缝检测（）超声波的“指向性”越好，检测分辨率越高（）耦合剂的用量越多，检测灵敏度越高（）缺陷的“指示长度”是指缺陷在检测方向的实际长度（）超声检测中，“6dB法”可用于比较不同缺陷的当量大小（）表面波探头主要用于检测工件表面的裂纹（）

四、简答题（共2题，每题5分）简述超声检测（以纵波检测为例）的基本原理列出超声检测中常见的5种缺陷类型，并简述其特征参考答案

一、单项选择题（共30题，每题1分）

1.A

2.B

3.B

4.D

5.B

6.A

7.A

8.B

9.B

10.B

11.A

12.C

13.A

14.A

15.B

16.B

17.A

18.B

19.B

20.A

21.A

22.D

23.B

24.D

25.A

26.A

27.B

28.B

29.D

30.A

二、多项选择题（共20题，每题2分）第7页共8页

1.ABCDE

2.ABCE

3.ABCD

4.ABDE

5.ABCD

6.ABCDE

7.AB

8.ABCDE

9.ABCDE

10.ABCDE

11.ABCDE

12.BC

13.ABCD

14.ABC

15.ABCE

16.ABCDE

17.ABCDE

18.ABCDE

19.ABE

20.ABC

三、判断题（共20题，每题1分）

1.×

2.×

3.√

4.√

5.√

6.×

7.√

8.√

9.√

10.√

11.×

12.×

13.√

14.√

15.√

16.√

17.×

18.×

19.√第8页共8页。