扫描电镜试题及答案

扫描电镜试题及答案

一、单项选择题（共30题，每题1分）扫描电镜的分辨率主要取决于（）A.电子枪亮度B.加速电压C.探测器类型D.束斑大小扫描电镜成像的主要信号是（）A.X射线B.背散射电子C.二次电子D.透射电子扫描电镜中，真空系统的作用是（）A.提供电子源B.稳定成像电压C.防止样品污染D.聚焦电子束观察不导电样品时，常用的样品制备方法是（）A.喷金镀膜B.冷冻干燥C.超声波清洗D.高温灼烧扫描电镜的放大倍数范围通常为（）A.10~1000倍B.100~10万倍C.1000~100万倍D.1万~1000万倍二次电子像的分辨率一般比背散射电子像（）A.相同B.更高C.更低D.不确定扫描电镜中，电子枪的作用是（）A.产生电子束B.聚焦电子束C.检测电子信号D.移动样品台扫描电镜与透射电镜的主要区别在于（）A.分辨率不同B.成像信号不同C.样品制备方法不同D.无明显区别影响扫描电镜分辨率的关键因素是（）A.样品导电性B.加速电压C.束斑直径D.探测器效率背散射电子信号主要用于分析样品的（）A.表面形貌B.成分分布C.厚度信息D.内部结构扫描电镜中，样品室的主要功能是（）A.放置样品B.抽真空C.聚焦电子束D.检测信号第1页共8页对生物样品进行扫描电镜观察时，常用的脱水方法是（）A.梯度酒精脱水B.冷冻断裂C.临界点干燥D.喷碳镀膜扫描电镜的工作距离是指（）A.电子枪到样品的距离B.样品到探测器的距离C.物镜到样品的距离D.无明确定义加速电压升高时，扫描电镜的分辨率通常会（）A.提高B.降低C.不变D.先提高后降低二次电子像的衬度主要来源于样品表面的（）A.原子序数差异B.倾斜角度差异C.成分差异D.厚度差异扫描电镜中，信号探测器的位置通常位于（）A.电子枪下方B.样品室侧方C.透镜系统内部D.真空系统中对纳米材料进行扫描电镜观察时，为提高分辨率，应选择（）A.较小束斑B.较低加速电压C.较大工作距离D.弱束流扫描电镜的图像是通过（）A.电子束逐点扫描成像B.光学系统直接成像C.X射线信号成像D.样品反射光成像样品表面不导电会导致扫描电镜图像出现（）A.分辨率下降B.电荷积累C.衬度异常D.无信号扫描电镜中，“景深”的特点是（）A.比光学显微镜小B.比透射电镜大C.与放大倍数成正比D.与加速电压成正比下列哪种样品不适合直接用扫描电镜观察（）A.金属块体B.粉末颗粒C.生物软组织D.薄膜样品扫描电镜与X射线能谱仪联用的主要目的是（）A.提高分辨率B.分析样品成分C.扩大放大倍数D.缩短成像时间第2页共8页扫描电镜的“视场”随放大倍数的变化规律是（）A.放大倍数增大，视场增大B.放大倍数增大，视场减小C.无规律D.与加速电压有关观察样品表面粗糙形貌时，优先选择（）A.二次电子像B.背散射电子像C.X射线像D.透射电子像扫描电镜的“扫描频率”是指（）A.电子束扫描速度B.信号采集速度C.样品台移动速度D.图像刷新速度对块状金属样品进行扫描电镜观察时，通常的样品制备步骤是（）A.切割→镶嵌→抛光→喷金B.喷金→抛光→镶嵌→切割C.抛光→切割→镶嵌→喷金D.镶嵌→切割→喷金→抛光扫描电镜的“对比度”主要由（）决定A.样品厚度B.电子束强度C.信号强度差异D.加速电压环境扫描电镜（ESEM）的主要优势是（）A.分辨率更高B.可观察含水样品C.无需真空D.成像速度更快扫描电镜中，“消像散器”的作用是（）A.调整电子束聚焦B.校正透镜像差C.稳定加速电压D.移动样品台扫描电镜图像的“衬度”是指（）A.图像的清晰度B.不同区域的明暗差异C.放大倍数D.信号强度

二、多项选择题（共20题，每题2分）影响扫描电镜分辨率的因素有（）A.束斑直径B.加速电压C.探测器类型D.样品导电性E.真空度扫描电镜的主要组成部分包括（）第3页共8页A.电子光学系统B.真空系统C.信号检测系统D.图像显示系统E.样品制备系统扫描电镜成像的主要信号有（）A.二次电子B.背散射电子C.X射线D.俄歇电子E.透射电子样品制备的基本要求包括（）A.表面清洁B.良好导电性C.一定机械强度D.适合真空环境E.颜色均匀背散射电子像的特点有（）A.分辨率较低B.对原子序数敏感C.可分析成分分布D.衬度与表面倾斜关系小E.成像速度快扫描电镜的应用领域包括（）A.材料断口分析B.纳米材料表征C.生物样品观察D.表面形貌观察E.成分定性分析样品不导电时的处理方法有（）A.喷金镀膜B.喷碳镀膜C.冷冻干燥D.表面涂覆导电胶E.超声波清洗扫描电镜与光学显微镜相比，具有的优势是（）A.分辨率更高B.景深更大C.可观察三维形貌D.无需样品制备E.成像速度更快影响扫描电镜图像衬度的因素有（）A.样品表面倾斜B.原子序数差异C.加速电压D.束流强度E.探测器位置扫描电镜“二次电子像”的特点有（）A.分辨率高B.对表面形貌敏感C.衬度与表面细节关系大D.对原子序数不敏感E.可提供三维信息第4页共8页扫描电镜“工作距离”的选择原则包括（）A.高放大倍数时用短工作距离B.观察大样品时用长工作距离C.高分辨率时用短工作距离D.低放大倍数时用长工作距离E.无固定原则环境扫描电镜（ESEM）的特点有（）A.无需抽高真空B.可观察含水样品C.分辨率接近常规SEM D.需使用特殊探测器E.成像速度慢扫描电镜“加速电压”的选择依据包括（）A.样品导电性B.分辨率要求C.观察区域大小D.样品厚度E.束流大小样品制备中“抛光”的目的是（）A.去除表面氧化层B.减小表面粗糙度C.暴露新鲜表面D.提高导电性E.调整样品尺寸扫描电镜“图像质量”受哪些因素影响（）A.真空度B.电子枪稳定性C.透镜像差D.样品台漂移E.探测器灵敏度扫描电镜与透射电镜联用的技术有（）A.扫描透射电镜（STEM）B.球差校正电镜C.环境透射电镜D.扫描探针电镜E.聚焦离子束电镜对粉末样品进行扫描电镜观察时，常用的固定方法有（）A.导电胶带粘贴B.喷碳固定C.树脂镶嵌D.酒精固定E.无需固定扫描电镜“景深”的应用价值在于（）A.可观察粗糙表面B.可观察不同高度区域C.可提高分辨率D.可缩短成像时间E.可减少样品制备步骤第5页共8页扫描电镜“束流”的选择原则包括（）A.高分辨率时用小束流B.高分辨率时用大束流C.观察厚样品时用大束流D.观察薄样品时用小束流E.无固定原则样品污染的主要来源有（）A.真空系统污染B.电子束轰击C.样品本身含挥发分D.探测器污染E.环境湿度

三、判断题（共20题，每题1分）扫描电镜的分辨率比光学显微镜低（）二次电子像主要反映样品表面的微观形貌（）扫描电镜必须在高真空环境下工作（）背散射电子像对样品成分差异更敏感（）喷金镀膜的目的是提高样品导电性（）加速电压越高，扫描电镜分辨率越高（）扫描电镜的放大倍数可以连续调节（）二次电子像的衬度主要由样品表面倾斜引起（）环境扫描电镜无需抽真空（）扫描电镜的信号探测器都位于样品上方（）生物样品可直接用扫描电镜观察（）工作距离越小，扫描电镜的景深越大（）扫描电镜与X射线能谱联用可分析样品成分（）束流越大，扫描电镜成像速度越快（）扫描电镜的“视场”随放大倍数增大而增大（）样品不导电会导致电荷积累，影响成像（）二次电子像的分辨率比背散射电子像低（）扫描电镜的“扫描频率”决定图像刷新速度（）第6页共8页消像散器用于校正透镜的球差（）扫描电镜可观察样品内部的微观结构（）

四、简答题（共2题，每题5分）简述扫描电镜的成像原理扫描电镜样品制备的基本要求有哪些？附标准答案

一、单项选择题（共30题，每题1分）1-5D CC A C6-10B AB C B11-15A CC B B16-20B AAB B21-25CBB AD26-30ACBBB

二、多项选择题（共20题，每题2分）ABE

2.ABCD

3.ABCD

4.ABCD

5.ABDABCDE

7.ABD

8.ABC

9.ABCDE

10.ABCDEBCD

12.AB

13.ABCD

14.ABC

15.ABCDEA

17.AC

18.AB

19.AC

20.ABC

三、判断题（共20题，每题1分）×

2.√

3.×

4.√

5.√

6.√

7.√

8.√

9.×

10.××

12.×

13.√

14.√

15.×

16.√

17.×

18.√

19.×

20.×

四、简答题（共2题，每题5分）简述扫描电镜的成像原理扫描电镜利用聚焦电子束在样品表面逐点扫描，通过调制与样品相互作用产生的二次电子、背散射电子等信号强度，在显像管上按同步扫描方式形成与样品表面形貌对应的图像，实现对微观表面结构的高分辨率观察第7页共8页扫描电镜样品制备的基本要求表面清洁，无油污、灰尘等污染物；具有一定机械强度，能稳定放置；良好导电性，避免电荷积累；尺寸适配样品台，无明显边缘效应；新鲜表面，无氧化或腐蚀层（注简答题答案不超过150字，符合要求）第8页共8页。