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文本内容:
过程控制典型试题及详尽答案
一、单选题
1.在过程控制中,用于衡量过程结果与目标值之间差异的指标是()(1分)A.过程能力指数B.过程变异C.过程均值D.过程偏差【答案】D【解析】过程偏差直接衡量结果与目标值的差异程度
2.控制图中的中心线CL代表的是()(1分)A.过程均值B.过程标准差C.过程变异范围D.过程控制限【答案】A【解析】中心线CL代表过程的平均性能水平
3.以下哪项不属于统计过程控制(SPC)的基本原理?()(1分)A.数据收集B.假设检验C.过程调整D.变异分析【答案】C【解析】SPC关注监控而非主动调整过程
4.过程控制图中,上控制限(UCL)通常设置为()(1分)A.μ+3σB.μ-3σC.μ+1σD.μ-1σ【答案】A【解析】UCL通常设置为均值加上3倍标准差
5.过程能力指数Cp的计算公式为()(1分)A.Cp=USL-LSL/6σB.Cp=USL-LSL/4σC.Cp=USL-LSL/2σD.Cp=USL-LSL/σ【答案】A【解析】Cp衡量过程满足规格要求的能力
6.控制图中的点子超出控制界限时,可能的原因是()(1分)A.随机波动B.系统波动C.过程均值变化D.过程标准差变小【答案】B【解析】超出控制界限通常表明存在系统波动
7.过程控制的首要步骤是()(1分)A.设定控制图B.收集数据C.分析控制图D.解释结果【答案】B【解析】数据收集是过程控制的基础
8.过程控制中,用于描述数据分布离散程度的指标是()(1分)A.过程均值B.过程标准差C.过程偏度D.过程峰度【答案】B【解析】标准差衡量数据的离散程度
9.过程控制图中的下控制限(LCL)通常设置为()(1分)A.μ-3σB.μ+3σC.μ-1σD.μ+1σ【答案】A【解析】LCL通常设置为均值减去3倍标准差
10.过程控制中,用于描述数据分布对称性的指标是()(1分)A.过程均值B.过程标准差C.过程偏度D.过程峰度【答案】C【解析】偏度描述数据分布的对称性【答案】
1.D
2.A
3.C
4.A
5.A
6.B
7.B
8.B
9.A
10.C
二、多选题(每题4分,共20分)
1.过程控制中,常用的控制图类型包括()(4分)A.均值控制图B.极差控制图C.标准差控制图D.不良率控制图E.帕累托图【答案】A、B、C、D【解析】均值、极差、标准差和不良率控制图是常用类型,帕累托图用于原因分析
2.过程控制中,导致点子超出控制界限的原因可能包括()(4分)A.原材料变化B.设备故障C.操作人员变动D.环境条件改变E.测量系统改进【答案】A、B、C、D【解析】这些因素都可能引起系统波动,导致点子超出控制界限
3.过程能力指数Cpk的计算需要考虑()(4分)A.过程均值B.过程标准差C.上规格限D.下规格限E.过程变异【答案】A、B、C、D【解析】Cpk计算需要均值、标准差和规格限
4.过程控制中,数据收集应注意()(4分)A.数据代表性B.数据准确性C.数据完整性D.数据及时性E.数据一致性【答案】A、B、C、D、E【解析】数据收集需确保全面性和质量
5.过程控制图中的异常模式可能包括()(4分)A.趋势B.周期C.随机波动D.异常点E.分层【答案】A、B、D、E【解析】异常模式包括趋势、周期、异常点和分层,随机波动是正常状态【答案】
1.A、B、C、D
2.A、B、C、D
3.A、B、C、D
4.A、B、C、D、E
5.A、B、D、E
三、填空题
1.过程控制中,用于衡量过程满足规格要求能力的指标是______(2分)【答案】过程能力指数
2.控制图中的上控制限(UCL)通常设置为______(2分)【答案】μ+3σ
3.过程控制中,用于描述数据分布离散程度的指标是______(2分)【答案】过程标准差
4.过程控制的首要步骤是______(2分)【答案】数据收集
5.过程控制图中,中心线CL代表的是______(2分)【答案】过程均值
6.过程控制中,常用的控制图类型包括______、______和______(4分)【答案】均值控制图、极差控制图、标准差控制图
7.过程控制中,导致点子超出控制界限的原因可能包括______、______和______(4分)【答案】原材料变化、设备故障、操作人员变动
8.过程控制中,数据收集应注意______、______和______(4分)【答案】数据代表性、数据准确性、数据完整性
四、判断题
1.过程控制图中的点子超出控制界限时,一定是由于异常原因引起的()(2分)【答案】(×)【解析】需要结合过程知识和历史数据综合判断
2.过程能力指数Cp值越大,表示过程能力越差()(2分)【答案】(×)【解析】Cp值越大,表示过程能力越好
3.过程控制中,所有异常模式都需要立即采取行动()(2分)【答案】(×)【解析】需根据异常模式和影响程度决定是否采取行动
4.过程控制图中的中心线CL通常设置为过程均值的估计值()(2分)【答案】(√)【解析】CL基于历史数据的均值估计
5.过程控制中,数据收集可以随意进行,不需要考虑代表性()(2分)【答案】(×)【解析】数据收集需确保代表性,否则结果不可靠【答案】
1.(×)
2.(×)
3.(×)
4.(√)
5.(×)
五、简答题
1.简述过程控制的基本原理及其重要性(5分)【答案】过程控制的基本原理是通过监控和改进过程,确保其稳定性和可预测性其重要性体现在
(1)提高产品质量和一致性;
(2)降低生产成本;
(3)增强客户满意度;
(4)提高生产效率;
(5)促进持续改进通过过程控制,企业可以及时发现和纠正问题,确保过程在受控状态下运行,从而实现质量目标和经营目标
2.简述控制图中的常见异常模式及其含义(5分)【答案】控制图中的常见异常模式包括
(1)趋势点子呈现明显的上升或下降趋势,可能表示过程均值正在变化
(2)周期点子呈现周期性波动,可能表示存在某种周期性因素影响
(3)异常点点子超出控制界限,可能表示存在异常原因
(4)分层点子集中在控制界限附近,可能表示数据分层不均匀这些异常模式提示过程可能存在系统性问题,需要进一步调查和改进
3.简述过程能力指数Cp和Cpk的区别及其计算公式(5分)【答案】过程能力指数Cp和Cpk的区别在于
(1)Cp衡量过程满足规格要求的能力,不考虑过程均值与规格限的偏移;
(2)Cpk考虑过程均值与规格限的偏移,更实际地反映过程能力计算公式为Cp=USL-LSL/6σCpk=min[USL-μ/3σ,μ-LSL/3σ]其中,USL为上规格限,LSL为下规格限,μ为过程均值,σ为过程标准差
六、分析题
1.某制造企业使用均值控制图和极差控制图监控某产品的尺寸过程最近30天收集的数据如下均值控制图的均值μ=
10.2,标准差σ=
0.5;极差控制图的极差R=
1.5规格限为USL=
11.0,LSL=
9.0请分析该过程是否受控,并计算过程能力指数Cp和Cpk(10分)【答案】分析过程是否受控
(1)均值控制图UCL=μ+3σ=
10.2+3×
0.5=
11.2LCL=μ-3σ=
10.2-3×
0.5=
9.2中心线CL=μ=
10.2检查点子是否在控制界限内,且无异常模式假设所有点子在控制界限内且无异常模式,则过程受控
(2)极差控制图UCL=D4×R=
2.115×
1.5=
3.1725LCL=D3×R=0×
1.5=0中心线CL=R=
1.5检查点子是否在控制界限内,且无异常模式假设所有点子在控制界限内且无异常模式,则过程受控计算过程能力指数Cp=USL-LSL/6σ=
11.0-
9.0/6×
0.5=
0.6667Cpk=min[USL-μ/3σ,μ-LSL/3σ]=min[
11.0-
10.2/
1.5,
10.2-
9.0/
1.5]=min[
0.4,
0.4]=
0.4结论该过程受控,但过程能力指数Cp和Cpk较低,需要进一步改进过程,减小变异
七、综合应用题
1.某食品加工企业使用不良率控制图监控某产品的缺陷率最近30天收集的数据如下不良率均值p=2%,标准差σp=
0.5%规格限为p=3%请分析该过程是否受控,并计算过程能力指数Cp和Cpk(25分)【答案】分析过程是否受控
(1)不良率控制图UCL=p+3σp=2%+3×
0.5%=
3.5%LCL=p-3σp=2%-3×
0.5%=
0.5%中心线CL=p=2%检查点子是否在控制界限内,且无异常模式假设所有点子在控制界限内且无异常模式,则过程受控计算过程能力指数Cp=USL-LSL/6σp=3%-0/6×
0.5%=
0.5Cpk=min[USL-p/3σp,p-LSL/3σp]=min[3%-2%/
1.5%,2%-0/
1.5%]=min[
0.3333,
1.3333]=
0.3333结论该过程受控,但过程能力指数Cp和Cpk较低,需要进一步改进过程,降低缺陷率【答案】
一、单选题
1.D
2.A
3.C
4.A
5.A
6.B
7.B
8.B
9.A
10.C
二、多选题
1.A、B、C、D
2.A、B、C、D
3.A、B、C、D
4.A、B、C、D、E
5.A、B、D、E
三、填空题
1.过程能力指数
2.μ+3σ
3.过程标准差
4.数据收集
5.过程均值
6.均值控制图、极差控制图、标准差控制图
7.原材料变化、设备故障、操作人员变动
8.数据代表性、数据准确性、数据完整性
四、判断题
1.(×)
2.(×)
3.(×)
4.(√)
5.(×)
五、简答题
1.过程控制的基本原理是通过监控和改进过程,确保其稳定性和可预测性其重要性体现在提高产品质量和一致性、降低生产成本、增强客户满意度、提高生产效率、促进持续改进等方面
2.控制图中的常见异常模式包括趋势、周期、异常点和分层,这些异常模式提示过程可能存在系统性问题,需要进一步调查和改进
3.过程能力指数Cp衡量过程满足规格要求的能力,不考虑均值偏移;Cpk考虑均值偏移,更实际地反映过程能力计算公式为Cp=USL-LSL/6σ,Cpk=min[USL-μ/3σ,μ-LSL/3σ]
六、分析题
1.均值控制图和极差控制图分析过程是否受控,计算过程能力指数Cp和Cpk,得出过程受控但能力指数较低,需要进一步改进
七、综合应用题
1.不良率控制图分析过程是否受控,计算过程能力指数Cp和Cpk,得出过程受控但能力指数较低,需要进一步降低缺陷率。
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